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神谷 健作; 三浦 幸俊; 井戸 毅*; 浜田 泰司*
Review of Scientific Instruments, 74(9), p.4206 - 4208, 2003/09
被引用回数：0 パーセンタイル：0.01(Instruments & Instrumentation)メッシュプローブを用いた重イオンビームプローブ用平行平板型エネルギー分析器の直接的な較正手法を確立した。ガス散乱による較正実験においてメッシュプローブ内にサンプル体積を導入した後、ACバイアスを印加することにより、観測される2次ビームの規格化差分量がバイアス電圧に比例することを確認した。同時に、規格化差分量のバイアス電圧に対する勾配が、理論計算から予想されるように分析器への入射角に依存することも確認できた。ビームのメッシュ透過率は約40%であるが、ビーム電流は10マイクロAとすることにより良好なS/Nが得られた。今回の絶対較正結果は誤差10%以下であり、メッシュプローブを用いない通常のガス散乱による較正結果と良い一致を示した。
三浦 幸俊; 竹内 浩; 小原 祥裕; 小長井 主悦*; 木村 博信*
Review of Scientific Instruments, 50(5), p.1111 - 1113, 1985/00
現在、プラズマ診断に一般的に用いられている中性粒子エネルギー分析装置は、多チャンネルで大型の分析器であり、プラズマ実験装置へのアクセスがかなり制限されている。そこで表面障壁型シリコン検出器(SSD)を用いた、小型1チャンネルでエネルギー分析ができる中性粒子分析装置の設計、検討を行った。また、検出器の有効性を確認するために、JT-60、NBI原型ユニットのプロトン比測定によりテストした。結果は、分光測定と良い一致を示し、また、エネルギー分解能が40KeVで約12%であり、粒子のエネルギーと、パルス波高の直線的関係が、16KeVから100KeVまで確認された。この小型中性粒子分析装置の設計、検討と、SSDについて発表する予定である。
